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如何攻克大尺寸液晶面板檢測難題

發(fā)表時(shí)間:2021-08-31 20:08:50 作者:思瑞瑕疵檢測 來源:m.tyxslm.com 瀏覽:

如何判定液晶面板是否具有“無縫銜接”的尺寸精度,高效、配置合理的檢測設(shè)備能更好的對產(chǎn)品進(jìn)行高精密尺寸把控。OPTIV復(fù)合式影像測量儀憑借復(fù)合式多傳感器,為客戶的檢測難題,提供了強(qiáng)有力的解決方案。


影像儀解決方案——OPTIV PERFORMANCE系列影像測量儀,復(fù)合測量——探針測量+影像測量,有效保證液晶面板外觀尺寸精準(zhǔn)度。

 

1. 外殼:

解決外殼尺寸問題,就需要對外殼的內(nèi)輪廓尺寸,以及定位孔尺寸進(jìn)行測量,由于金屬外殼的加工過程使得產(chǎn)品邊緣有倒角,如果單純用光學(xué)測量的話有時(shí)候造成較大的誤差,目前在富士康、可成、綠點(diǎn)體系都在用接觸的方式測量外殼和屏幕的配合尺寸,包括外殼上表面或者側(cè)面的尺寸。直測針,用于垂直測量表面的槽和臺階;帶角度的斜孔或者斜槽十字星型測針,用于側(cè)面邊槽和臺階;可以用來測量厚度,測量帶螺紋的孔或者非常薄的邊。

   

2. 2D平面尺寸測量:

1) CG、Pannel——2D尺寸,例如長度、寬度、揚(yáng)聲器孔和位置、攝像頭孔尺寸和位置、Home鍵尺寸和位置、四角輪廓等等; 2) FPC——排線的線路線寬、線距;上面所有的PIN的間距和位置;任何接插連接的socket的中的針腳的位置和寬度等;FPC上很多的圓槽和定位孔的尺寸; 3) BLU和CG粘合的相對位置的確認(rèn);

這些尺寸都是2D測量里基本的要求,采用光學(xué)測量(同軸光、底光、環(huán)光)

??怂箍?a href="http://m.tyxslm.com/" target="_blank" >思瑞測量設(shè)備所具備的多重捕捉功能(Multi Capture),一次性測量整個(gè)視場內(nèi)的所有尺寸,直接提高三倍測量速度。

 

3. 曲面測量測量:

采用CWS白光測頭測量,Z向精度可以達(dá)到0.3um,可以測量屏幕表面的平面度、尤其可以測量透明和高反射率材料的表面形貌。

三種傳感器搭配在一臺復(fù)合式影像測量設(shè)備,一次裝夾,完成全尺寸測量。強(qiáng)大的PC-DMIS VISION 測量軟件,基于3D或者2D數(shù)模的編程和對比。

如何攻克大尺寸液晶面板檢測難題(圖1)

CAD module 選項(xiàng):具有多種格式的CAD數(shù)模的導(dǎo)入、編程和測量,并能夠完成幾何關(guān)系的計(jì)算、構(gòu)造和形位公差的評價(jià)與分析,如:IGES,DWG、DXF、STEP,VDAFS,STL。

軟件具有測量數(shù)據(jù)多種通用的輸出格式,如:IGES、STEP,VDAFS, XAML, DMIS,DES,Excel,Generic,XYZ,可以用于逆向設(shè)計(jì)。

 

輪廓尺寸測量:具有2D輪廓掃描功能,可以自動(dòng)巡邊進(jìn)行輪廓掃描,對CG和TP等的輪廓和原始DXF、DWG文件進(jìn)行對比。

基于以上強(qiáng)大的測量功能和數(shù)據(jù)處理功能,眾多玻璃廠家均采用思瑞測量復(fù)合式影像測量設(shè)備測量曲面屏,為液晶面板檢測嚴(yán)格把關(guān)。

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