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思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器

發表時間:2021-07-13 11:07:00 作者:思瑞瑕疵檢測 來源:m.tyxslm.com 瀏覽:

提到SIM卡托,很多用戶心中所想的無非就是一個可以固定1張或2張SIM卡,并將其插入手機中的卡片。實際上,就是這么一張小小的卡片,其背后的加工設計也隱藏著不少門道呢。為了保證手機SIM卡托的外觀質量,在加工完成后需要高精度測量設備進行瑕疵檢測。

 

生產過程中,受到加工工藝的影響,SIM卡托會呈現多種形態的缺陷,看似“毫不起眼”的表面瑕疵及“微乎其微”的次品率,卻成為企業難以提高良率的瓶頸,并且在經過完整制程后再剔除次品成本會高很多;當成為商品,落入消費者口袋后,將影響產品的使用性能及外觀質量。

 

思瑞測量采用獨立自主研發的技術成果,推出了手機SIM卡托瑕疵檢測設備。可以在兩秒內完成單個手機SIM卡托瑕疵測量,每小時高達1800片,幾十種瑕疵“一機搞定”。

 思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖1)


01 全自動測量

工件上下料均采用四軸機械手,機械手移動范圍高達600mm,搭配6個零件夾爪、托盤吸盤及在抓取部件和抓取托盤之間切換的開關缸。下料機械手X、Y、R軸均可±360o旋轉,實現更大程度利用下料單元的空間進行分bin,包括NG料區、OK料區和空托盤區。有效實現全自動測量,改善因人工作業造成的漏檢、誤檢損失。

 

02 多種組合光源呈現不同的瑕疵

通過對無數個不同瑕疵在不同光源和角度下大量反復的光學實驗和論證,優化組合光源的照明方法及檢測光路配置,最終探索出不同的光源及7個攝像頭的位置,表面微小及低對比度瑕疵也能很好的呈現,保證后續檢測系統高效、準確拍攝出清晰度更好的瑕疵圖像,一次檢測位置為T面,內框面,R角,側面,底面等8個面。

思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖2)


03 多種瑕疵的好精度檢測挑戰

手機SIM卡托瑕疵檢測設備能有效對生產工藝中容易產生的碰傷、刀紋、異色、變形、料線、白點、擦傷、掉膜、混料、掉砂、腐蝕、鐳雕多雕、鐳雕發黑、劃傷、未鐳雕、T面刀紋、內圈刀紋等多種瑕疵類型進行像素識別和解析,輕松識別瑕疵特征。

 

 

思瑞全自動瑕疵檢測方案,手機SIM卡托測量利器(圖3)


04 深度學習,適應不同瑕疵

海克斯康自主研發深度學習視覺瑕疵檢測軟件Proxima,通過前期采集大量數據,對產品各類瑕疵及異常點識別算法和模型進行學習和訓練基本質檢技能,在檢測時可以快速的識別出缺陷,進一步提升準確率、豐富檢驗種類,適應新的業務需求。

 

手機SIM卡托瑕疵檢測設備多方位多類型高效全自動對SIM卡托進行瑕疵檢測,精準把控產品質量,完成客戶需求!一方面為企業有效解決了質檢環節的實際問題,產品漏檢率大幅降低的同時預計節約人員投入成本,帶來了效益的顯著提升。另一方面,助力企業全面提升質檢環節的自動化、數字化和智能化水平。

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